LCP-25 Eksperimentell Ellipsometer Utvalgt bilde

LCP-25 eksperimentelt ellipsometer

Kort beskrivelse:

Det manuelle elliptiske polarimeteret bruker ekstinksjonsmetoden for å måle tykkelsen og brytningsindeksen til filmen, og regulerer manuelt avviket og avviksvinkelen til testprosessen.Ellipsometri er mye brukt i måling av dielektrisk tynn film på fast underlag.I metoden for å måle tykkelsen på filmen, kan den måles til den tynneste og høyeste presisjon.

Send e-post til oss

Produkt detalj

Produktetiketter

Spesifikasjoner

Beskrivelse	Spesifikasjoner
Måleområde for tykkelse	1 nm ~ 300 nm
Omfang av hendelsesvinkel	30º ~ 90º , Feil ≤ 0,1º
Polarisator og analysator skjæringsvinkel	0º ~ 180º
Diskvinkelskala	2º per skala
Min.Lesing av Vernier	0,05º
Optisk senterhøyde	152 mm
Diameter på arbeidstrinn	Φ 50 mm
Overordnede dimensjoner	730x230x290 mm
Vekt	Omtrent 20 kg

Deleliste

Beskrivelse	Antall
Ellipsometer enhet	1
He-Ne Laser	1
Fotoelektrisk forsterker	1
Fotocelle	1
Silikafilm på silisiumsubstrat	1
Analyseprogramvare CD	1
Bruksanvisningen	1