Velkommen til våre nettsider!
section02_bg(1)
head(1)

LCP-25 eksperimentelt ellipsometer

Kort beskrivelse:


Produkt detalj

Produktetiketter

Introduksjon

Det manuelle elliptiske polarimeteret bruker ekstinksjonsmetoden for å måle tykkelsen og brytningsindeksen til filmen, og manuelt regulere avviket og avviksvinkelen til testprosessen. Ellipsometri er mye brukt i måling av dielektrisk tynn film på fast underlag. I metoden for å måle tykkelsen på filmen kan den måles til den tynneste og høyeste presisjonen.

Spesifikasjoner

Beskrivelse Spesifikasjoner
Tykkelse Måleområde 1 nm ~ 300 nm
Rekkevidde av hendelsesvinkel 30º ~ 90º, Feil ≤ 0,1º
Polarisator og analysator kryssvinkel 0º ~ 180º
Diskvinkelskala 2º per skala
Min. Lesing av Vernier 0,05º
Optisk senterhøyde 152 mm
Arbeidsfasediameter Φ 50 mm
Totale dimensjoner 730x230x290 mm
Vekt Omtrent 20 kg

Deleliste

Beskrivelse Antall
Ellipsometer enhet 1
He-Ne Laser 1
Fotoelektrisk forsterker 1
Fotocelle 1
Silisiumfilm på silisiumunderlag 1
Analyse programvare CD 1
Bruksanvisningen 1

  • Tidligere:
  • Neste:

  • Skriv meldingen din her og send den til oss